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Patent (개선된 고속 푸리에 변환을 이용한 막두께 측정 장치 및 방법)
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Patent - 개선된 고속 푸리에 변환을 이용한 막두께 측정 장치 및 방법 / Apparatus and method for measurement of film thicknessusing improved Fast Fourier Transformation.
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