Elli-Ret (Retardation) > Polarimeter

“Retardation Measurement System延迟测量系统”

延迟测量系统(Elli-Ret)是高、低、零延迟薄膜的延迟分析系统。该系统提供光轴，延迟膜的Rin & Rth以及偏振片的透射轴，消光轴。为达到快速和精准的测量，Ellipso Technology开发了非常强大的软件和硬件。

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◈参数 (SPECIFICATION)

1.测量常数：延迟(Rin, Rth)，(nx,ny,nz), β-angle, 光轴

2.测量速度：每点少于25秒
3.重复性：< 0.005 nm(Rin)
4.光斑尺寸：4mm

◈延迟系统 (RETARDATION SYSTEM)

1.光源：卤素灯，准直系统，SMA型光纤耦合器
2.波长：550nm
3.偏振模块：高精准旋转台上的单晶偏振器
4.延迟模块：高精准旋转台，电动线性平台和控制系统，消色差聚合物四分之一波片
5.分析模块：高精准旋转台上的单晶偏振器
     孔式光学编码器
6.样品摆放：电动旋转平台

竖直，水平，独立旋转

 2 双轴电动平台控制器

 样品摆放卡盘

◈应用 (APPLICATION)

1.偏振片/LCD延迟膜
2.光轴（透射，慢，快）
3.双折射（单轴，双轴），延迟
4.摩擦（或光取向）方向和摩擦角度（或光取向）

◈选项 (OPTION)

1.光谱范围：400 nm ~ 800 nm
2.接近零延迟系统：光取向 PI的超小各向异性(Δnd~0.005 nm)