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Company Introduction
EllipsoTechnology公司成立于2000年7月，基于椭圆偏振仪，以提供用于测量和分析薄膜
（极化状态变化）的结构和性能的高精度光学仪器。
Ellipsometry, Reflectometry, Polarimetry 等。凭借30多年的学术和技术经验，我们将提供薄
膜和偏振光的最佳测量设备，为客户的发展做出贡献。

Main Products
1. 光学薄膜测量设备(Ellipsometer)
- 使用偏振分析测量薄膜厚度，光学常数（折射率，吸收率n，k）
- 厚薄膜测量（sub Å〜10㎛）
- Single or multilayer films of dielectrics,semiconductors, metals, polymers, etc.
2. 反射计(Reflectometer)
- 反射率，膜厚度，折射率的高速测量
- Sub micron spot size（5,10,25,50㎛）
- 大面积样品 Mapping，生产线和 in-situ监测
3. 偏光仪(Polarimeter)
- 测量偏光膜透射轴，吸收轴
- 光学膜延迟和极化分析
- LCD取向膜超细光学各向异性测量
- 液晶分布和 order parameter
- 透明基板的双折射测量

Ellipso Technology
President Kim Sang Youl
Address (WooMan-dong)2F, EL-Tower, 358, GwonGwang-ro,
PalDal-gu, SuWon-si, GyeongGi-do, 16498, Korea
Contact 82-070-7729-8321
Fax 82-031-214-0441
E-Mail heekyu.yoon@ellipsotech.com