iMiD 2018 한국디스플레이산업전시회 참가 > 공지사항

EllipsoTechnology, founded in July 2000 as an ellipsometer-based company, is producing high quality optical instruments which measure and analyze structure and optical property of thin films, as well the polarization state change of light, with ultrahigh precision. We aim to become the world-widely leading company in Ellipsometry, Reflectometry, Polarimetry with our scientific and technical excellence accumulated through more than three decades. We would like to contribute to the development and growth of your company by providing the best equipments together with customized advices related with thin films and polarization state changes of light.

1. Thin Film Measurement System (Ellipsometer)
   - Thickness, optical constant(n, k) of thin film based on polarization analysis
   - Thick and thin films (sub Å ~ 10 ㎛)
   - Single or multilayer films of dielectrics, semiconductors, metals, polymers, etc.
2. Reflectivity Measurement System (Reflectometer)
   - Hi-speed measurement of reflectivity, film thickness, n & k
   - Sub micron spot size (5, 10, 25, 50 ㎛)
   - Wide area mapping, In-line and in-situ monitoring
3. Polarization Analysis System (Polarimeter)
   - Transmission axis, absorption axis of polarizing film
   - Retardation and polarizing characteristics of optical film
   - Ultra small optical anisotropy of LCD alignment layer
   - Distribution of liquid crystal and order parameter
   - Birefringence of transparent substrate

Ellipsometer를 기반으로 하여 2000년 7월 창립한 (주)엘립소테크놀러지는 얇은 막(Thin Film)의 구조와 물성 그리고 빛의 편광상태변화(Polarization State Change)를 측정, 분석하는 초정밀 광학장비를 공급하고 있습니다.
Ellipsometry, Reflectometry, Polarimetry 등에 관한 세계 일류의 기업을 지향하며 삼십 년 이상 축적된 학문적, 기술적인 수월성을 바탕으로 박막과 편광에 관한 최선의 측정 장비를 제공함으로써 고객사의 발전에 기여하며 더불어 성장하고자 합니다.

1. 광학 박막 측정장비(Ellipsometer)
   - 편광 분석을 이용한 박막 두께, 광학상수(굴절률, 흡수율 n,k) 측정
   - 두껍고 얇은 박막 측정(sub Å ~ 10 ㎛)
   - Single or multilayer films of dielectrics, semiconductors, metals, polymers, etc.
2. 반사율 측정장비(Reflectometer)
   - 반사율, 막두께, 굴절률 고속측정
   - Sub micron spot size (5, 10, 25, 50 ㎛)
   - 대면적 시료 Mapping 측정, 공정 라인 및 in-situ 모니터링
3. 편광분석 장비(Polarimeter)
   - 편광필름 투과축, 흡수축 측정
   - 광학필름 위상차 및 편광 분석
   - LCD 배향막 초미세 광학이방성 측정
   - 액정의 분포와 order parameter
   - 투명기판의 복굴절 측정