Patent (편광판과 위상지연판이 접합된 시료의 광축) > 특허 (Patent)

Patent - 편광판과 위상지연판이 접합된 시료의 광축 정렬 오차 측정장치 및 그 방법 / An Apparatus For Measuring Optic Axis Off-Alignment Of Polarizing Plate And Phase Retardation Plate And Method Thereof